近日有客戶咨詢：使用工業(yè)內(nèi)窺鏡發(fā)現(xiàn)渦輪葉片的葉尖掉角缺陷后，采用相位掃描3D測(cè)量技術(shù)測(cè)量缺陷報(bào)錯(cuò)，是怎么回事？該用戶遇到的問題在韋林專業(yè)人士的指導(dǎo)下已順利解決。特在此分享，希望您在使用相位掃描3D測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡時(shí)避免發(fā)生同樣的問題。

韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡 Mentor Visual iQ（MViQ）是3D測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡，可以選裝單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)，該測(cè)量技術(shù)通過專用相位掃描3D測(cè)量鏡頭和探頭捕捉被測(cè)物表面三維信息，無(wú)需進(jìn)行光標(biāo)匹配或標(biāo)記陰影線，測(cè)量準(zhǔn)確，而且無(wú)需頻繁更換鏡頭。

使用注意事項(xiàng)：該測(cè)量技術(shù)在測(cè)量之前計(jì)算出全部三維坐標(biāo)、并形成點(diǎn)云圖，為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，需要在測(cè)量前采集大量的、穩(wěn)定的圖像信息。因此，在相位掃描測(cè)量的圖像掃描過程中，需保持探頭靜止，大約1、2秒鐘左右的樣子，給系統(tǒng)以相對(duì)充足的時(shí)間獲取大量的圖像信息，同時(shí)屏幕上也會(huì)出現(xiàn)“正在捕獲圖像......請(qǐng)保持探頭靜止”這樣的提示信息，掃描完畢后，即可開始測(cè)量。

如果內(nèi)窺鏡探頭處于移動(dòng)狀態(tài)，系統(tǒng)無(wú)法捕捉所需的圖像信息；如果在捕捉期間探頭發(fā)生移動(dòng)，系統(tǒng)會(huì)暫停捕捉，直到移動(dòng)停止，嘗試第二次捕捉；如果每次嘗試在未移動(dòng)情況下捕捉得到足夠幀以提供足夠的表面覆蓋率，則可以繼續(xù)進(jìn)行測(cè)量；如果每次嘗試在未移動(dòng)情況下均未完成，則顯示信息說(shuō)明捕捉受移動(dòng)影響，這樣可能導(dǎo)致比未移動(dòng)時(shí)出現(xiàn)更多不可測(cè)量的(紅色)像素或較高的噪音水平；如果移動(dòng)足以大幅降低 3D數(shù)據(jù)質(zhì)量，則系統(tǒng)將提示圖像捕捉失敗。

因此，在使用相位掃描3D測(cè)量?jī)?nèi)窺鏡測(cè)量缺陷時(shí)，一定要注意在圖像掃描過程中，需保持探頭靜止，否則可能會(huì)增加圖像的不可測(cè)區(qū)域以及噪音，甚至出現(xiàn)報(bào)錯(cuò)無(wú)法完成測(cè)量。相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)是先進(jìn)的工業(yè)內(nèi)窺鏡缺陷測(cè)量技術(shù)，使用中應(yīng)遵照操作手冊(cè)中的說(shuō)明，如果您遇到問題，也可以咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司（http://m.mxhstcy.com）。

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